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招標代理公司（立即查看） 受業(yè)主單位（立即查看） 委托，于2025-08-15在采購與招標網(wǎng)發(fā)布 西安石油大學2025年09月政府采購意向。現(xiàn)邀請全國供應商參與投標，有意向的單位請及時聯(lián)系項目聯(lián)系人參與投標。 （略）采購信（略）采購意向公開工作的通知》（財庫〔（略）〕（略）號）等有關規(guī)定，現(xiàn)將本單位（略）年（略）月至（略）年（略）月采購意向公開如下：序號采購項目名稱采購需求概況預算金額（略）預計采購時間備注1高溫高壓（略）采購內(nèi)容:高溫高壓（略）；主要功能或目標:主要參數(shù)：1、實驗溫壓參數(shù)：0～（略）MPa，室溫～（略）℃；2（略）：0.（略）mlmin～（略）mlmin；3、活塞容器：容積≥（略）ml；4（略）：控溫精度0.5℃±0.1℃；5、微流控芯片規(guī)格：芯片尺寸1～5cm，孔喉尺寸≤（略）μm；6（略）：控壓精度0.（略）MPa±0.（略）MPa；7（略）：（略）辨率不小于1m（略）采購相關規(guī)定。（略）.（略）年（略）月無2高溫高壓界面張力儀采購內(nèi)容:高溫高壓界面張力儀；主要功能或目標:主要參數(shù)：1、壓力范圍：0.1MPa～（略）MPa；2、溫度范圍：（略）℃～（略）℃；3、速度范圍：0rpm～（略）rpm；4、界面張力測量范圍：（略）-6mNm～（略）mNm；5、表面張力測量范圍：（略）mNm～（略）mN（略）采購相關規(guī)定。（略）.（略）年（略）月無3納米粒度電位儀采購內(nèi)容:納米粒度電位儀；主要功能或目標:主要參數(shù)：1、粒度測試功能：納米及亞微米級別顆粒粒徑測量。2、Zeta電位測量功能：溶液和固體表面Zeta電位測量。3、微流變校準功能：校正由于體系流變性能不同造成的粒徑測量誤差。4、（略）測試功能：（略）監(jiān)測樣品隨PH、電導率、濃度、溫度外界條件而改變的變化趨勢。5、納米顆粒粒徑測量：粒度直徑范圍：0.3nm-（略）um；準確度：≤0.4%。6、zeta電位檢測粒度范圍：3.8nm-（略）um；遷移率：≥（略）μ.cmV.（略）采購相關規(guī)定。（略）.（略）年（略）月無4氣相色譜儀采購內(nèi)容:氣相色譜儀；主要功能或目標:1、主要用于油氣田勘探開發(fā)中的化學組成（略）析、原油及煉廠氣組（略）檢測、油品添加劑評價等；2、主要參數(shù)：1）保留時間重現(xiàn)性≤0.（略）%，峰面積重現(xiàn)性≤0.5%RSD；2）室溫~（略）?C，溫度設置（略）辨率：≤0.1°C；3）程序升溫：不少于（略）階（略）；4）≥（略）位自動進樣器；5）具有自動閥驅(qū)動，可通過（略）實現(xiàn)氣體自動進樣、定時進樣、間斷進樣等功能，無需手動操作；6）交叉污染≤0.（略）；7）TCD檢測器最高操作溫度：≥（略）℃；8）FID檢測器最低檢測限：≤1.2pg（略）采購相關規(guī)定。（略）.（略）年（略）月無5油氣高壓PVT儀（高溫高壓地層流體相態(tài)（略）析儀）采購內(nèi)容:油氣高壓PVT儀（高溫高壓地層流體相態(tài)（略）析儀）；主要功能或目標:主要參數(shù)：1、測定高溫高壓條件下地層流體、超臨界CO2的相態(tài)特征及油氣變化情況；2、工作溫度不低于（略）℃；3、工作壓力不低于（略）MPa；4、潤濕部件耐酸、抗鹽、防硫化氫腐蝕；5、釜體≥（略）ml；6、具備自動（略）、全視窗（略）；7、可視鏡頭最小觀測尺寸≤1μm；8、配備液相色譜質(zhì)譜儀，用于實驗樣品低濃度檢測和石油化工產(chǎn)品高靈敏度定量（略）析，輸液泵流量范圍：0.（略）~5.0mlmin，壓力范圍：≥（略）Mpa，樣品容量：≥（略）位2ml樣品瓶，柱溫箱溫度范圍:室溫+4℃-（略）℃，紫外檢測器波長范圍：（略）－（略）nm，質(zhì)譜質(zhì)量范圍：涵蓋3-（略）amu，質(zhì)譜檢出限：在ESI源正離子方式利血平MRM（（略）-（略））條件下，檢出限IDL≤2fg，質(zhì)譜掃描速度:≥（略）usec，儀器質(zhì)量穩(wěn)定性:≤0.1amu（略）h（略）采購相關規(guī)定。（略）.（略）年（略）月無6多場景式（略）采購內(nèi)容:多場景式（略）；主要功能或目標:主要參數(shù)1、表面載荷：≥（略）N；2、載荷相對誤差：誤差≤0.2％F.S；3、力調(diào)（略）過程：閉環(huán)控制烈度當量速度無極跟蹤調(diào)節(jié)；4、烈度當量速度范圍：（略）—（略）spm；5、力傳感器精度：＜0.（略）；6、往復形式（1）往復頻率0.1～（略）Hz極限值；（2）線速度0.1mmin～（略）mmin；（3）試驗形式銷、盤一面球—面摩擦，（略）柱面模擬磨損測試；（4）往復行程0.2～（略）mm；（5）載荷測量精度±0.2～0.5%；（6）溫度控制范圍室溫～（略）℃；（7）溫控精度±5℃以內(nèi)；7、旋轉(zhuǎn)模塊（1）最大轉(zhuǎn)速＜（略）rmin；（2）旋轉(zhuǎn)精度±5rmin以內(nèi)；（3）旋轉(zhuǎn)半徑＜（略）mm；（4）溫度范圍：室溫—（略）℃（5）溫度精致精度：±2℃（略）采購相關規(guī)定。（略）.（略）年（略）月無7失效構(gòu)件結(jié)構(gòu)數(shù)（略）采購內(nèi)容:失效構(gòu)件結(jié)構(gòu)數(shù)（略）；主要功能或目標:主要參數(shù)：1.掃描速率≥1,（略）,（略）次測量秒；2.單（略）域≥（略）mm×（略）mm（略）辨率≤0.（略）mm；3.掃描（略）辨率可以實時調(diào)（略），既可以在掃描前設置（略）辨率，也可以在掃描過程中實時調(diào)（略）掃描（略）辨率；4.體積精度≤0.（略）mm+0.（略）mmm；5.掃描基準距≥（略）mm；6.掃描景深≥（略）采購相關規(guī)定。（略）.（略）年（略）月無8鉆井液壓力傳遞與儲層保護評價儀及輔件采購內(nèi)容:鉆井液壓力傳遞與儲層保護評價儀及輔件；主要功能或目標:主要技術參數(shù)：1、巖心直徑：≤Φ（略）.4mm；2、巖心長度：0～（略）mm①用于壓力傳遞測試：巖心長度5～（略）mm餅狀巖樣；②用于儲層保護時采用柱狀巖樣，長度（略）～（略）mm；3、實驗溫度：室溫～（略）℃；4、實驗圍壓：≤（略）MPa；5、液體循環(huán)泵：工作壓力：0～（略）MPa；流量：變頻可調(diào)，平均2.8mLs；（略）通徑：6mm；6、液體容器鉆井液預熱容器：容積（略）mL、承壓≤（略）MPa、預熱溫度≤（略）℃；7、壓力監(jiān)測：0～（略）MPa，精度0.1%FS；8、氣體滲透率測量范圍：（略）-6～（略）（（略）-3mD）誤差：（略）%；9、穩(wěn)態(tài)液體滲透率測量范圍：（略）-3～（略）（（略）-3m（略）采購相關規(guī)定。（略）.（略）年（略）月無9高壓泡沫（略）析儀采購內(nèi)容:高壓泡沫（略）析儀；主要功能或目標:高壓泡沫（略）析儀主要參數(shù)：1、測量壓力≥（略）MPa，溫度≥（略）℃；2、與各種氣體反應發(fā)泡，如空氣、氮氣或二氧化碳等發(fā)泡性能進行測試和評價；3、配有測量中加液模（略）采購相關規(guī)定。（略）.（略）年（略）月無（略）背散射電子衍射裝置（EBSD）采購內(nèi)容:背散射電子衍射裝置（EBSD）；主要功能或目標:主要參數(shù)：1、高（略）辨低噪音CMOS相機，衍射花樣（略）辨率最大（略）*（略），花樣采集速度≥（略）點秒，衍射花樣（略）辨率保持（略）*（略）；2、取向精度優(yōu)于0.（略）度；3、通過高精度馬達控制EBSD探測器的進出，移動速度≥（略）mms，位置精準度＜0.1mm；4、應配置晶體學數(shù)據(jù)庫HLKICSD，數(shù)據(jù)庫容量超過5（略）種，支持直接導入CRY、CIF、CEL物相數(shù)據(jù)和自定義物相；5、采用最優(yōu)化的Hough變換，多條帶標定方法（最多可以用（略）條菊池帶進行標定），根據(jù)平均（略）度偏差MAD等進行完全自動化的菊池帶識別和花樣標定；6、（略）可支持多種SEM圖像類型（二次電子像、背散射電子像），EBSD最大電子圖像尺寸不低于（略）×（略）像（略）采購相關規(guī)定。（略）.（略）年（略）月無（略）場發(fā)射掃描電子顯微鏡采購內(nèi)容:場發(fā)射掃描電子顯微鏡；主要功能或目標:主要參數(shù)：1、電子束加速電壓：0.2—（略）kV，離子束加速電壓：0.5kV—（略）kV；2、電子束（略）辨率：≤2.0nm，離子束（略）辨率：≤3.0nm；3、電子鏡筒最大放大倍數(shù)：（略）x～2,（略）,（略）x；4、電子束電流：5PA～（略）nA，離子束電流：1pA~（略）nA；5、大樣品尺寸：直徑≥（略）mm，高≥（略）mm；6、擴展接口≥（略）個；7、附件：EBSD：高（略）辨CMOS相機：（略）x（略），高靈敏度：最小工作電流（略）pA，最小工作電壓5kV，非接觸式碰撞防護，面掃描（略）辨率4k*4k，全自動EBSD采集（略）包，后處理（略）包；EDS：（略）析（略）素范圍：Be4-Cf（略），（略）辨率優(yōu)于（略）eVMnKα處，窗口（略）mm2超大（略），無需液氮冷卻，熱循環(huán)設計,快速冷卻，（略）定性定量（略）析，面掃、線掃等。9（略）；（略）、樣品制備：鍍膜設備、振動拋光、離子濺（略）采購相關規(guī)定。（略）.（略）年（略）月無（略）粒度儀采購內(nèi)容:粒度儀；主要功能或目標:主要參數(shù)：采購內(nèi)容：粒度儀采用靜態(tài)光散射以及圖像法測試粒度大小，主要參數(shù)：1、粒度范圍：0.（略）—（略）um；2、激光器：固體激光器；3、采用干濕圖像三種測試模式測（略）采購相關規(guī)定。（略）.（略）年（略）月無（略）電感耦合等離子光譜儀采購內(nèi)容:電感耦合等離子光譜儀；主要功能或目標:用途：用于石油化工產(chǎn)品、原油及環(huán)境樣品中多（略）素（如重金屬、微量（略）素等）的定量（略）析主要參數(shù)：1（略）無任何移動部件，所有光學（略）件均密封于恒溫光室中2）固體檢測器覆蓋從（略）-（略）nm（略）個波長范圍；（略）個波長范圍內(nèi)所有（略）素一次測定一次讀出3）檢測器冷卻：半導體制冷，≤-（略）℃4）（略）析速度：每（略）鐘≥（略）個（略）素，且積（略）時間不小于5秒5）功率范圍涵蓋：（略）-（略）W，雙向觀測時最高功率≥（略）W，計算機控制在功率范圍內(nèi)進行任意功率調(diào)節(jié)6）長期穩(wěn)定性：8小時，RSD≤1%（無需加內(nèi)標，無需用飄移修正技（略）采購相關規(guī)定。（略）.（略）年（略）月無（略）掃（略）采購內(nèi)容:（略）掃（略）；主要功能或目標:1、掃描（略）辨率（（略）、Y、Z）:≤1.1nm；2、適用模塊：SECM、AC-SECM、StylusSECM、SVET、SKP、LEIS、OSP，SDC，ISP；3、配備（略）（ISP），氯離子選擇性電極、氫離子選擇性電極；4、檢出限[Cl-]≥（略）-4molL,pH值范圍：2~（略）；5、操作模式:等距和等高；6、探針接觸樣品的壓力約為2.（略）x（略）N；7、SECM-掃描電化學測試模塊兩臺獨立的電化學工作站組（略）還可以單獨使用進行常規(guī)電化學實驗包括電化學噪聲，電化學交流阻抗測試，儀器包括完（略）的直流測試和交流阻抗測試模（略）采購相關規(guī)定。（略）.（略）年（略）月無（略）結(jié)構(gòu)多（略）采購內(nèi)容:結(jié)構(gòu)多（略）；主要功能或目標:主要參數(shù)：1（略）多探頭（略）辨率≤（略）μmm，單一探頭（略）辨率≤（略）μmm；2（略）采集頭滿畫幅（略）辨率≥（略）像素，滿幅幀率≥（略）HZ；3（略）內(nèi)置實時數(shù)字散斑成像質(zhì)量量化評估功能，能夠以色域覆蓋的模式直觀地顯示全場位移誤差值的量化（略）布，同時提供待測物體表面任意位置的位移誤差范圍評定、圖像反光點信息及曝光度評定，且具有標尺，可確保評估值≤0.（略）；4（略）校正（略）析過程需自動識別標定板的規(guī)格并進行計算，對每一張的標定圖像都會輸出一個量化值，移除誤差值較大的校正圖像，確保該值≤0.（略）采購相關規(guī)定。（略）.（略）年（略）月無（略）采購內(nèi)容:（略）；主（略）主要應用于地質(zhì)、巖土、材料、結(jié)構(gòu)、高壓滲流、多相流等瞬態(tài)響應過程的記錄，獲取結(jié)構(gòu)及材料動態(tài)沖擊損傷、跌落、落錘、流體力學實驗等在高速動態(tài)演化過程的圖像追蹤采集、記錄，（略）析高速動態(tài)演化過程中的位移、速度、加速度、軌跡追蹤等數(shù)據(jù)，保存高速動態(tài)過程的圖像。主要參數(shù)：1.滿畫幅（略）辨率≥（略）×（略）；2.滿畫幅幀≥（略）fps；3.采集幀率≥（略）fp（略）采購相關規(guī)定。（略）.（略）年